• Matériaux, chimie, procédés et produits

Centre de compétences Diffusion, Diffraction, Tomographie et Fluorescence X et Spectroscopie Mossbauer (IJL - CC Xgamma)

Plateforme

Présentation générale

Le Centre de Compétences X-Gamma regroupe l'ensemble des équipements scientifiques et informatiques liés à l'utilisation des rayons X et à la spectroscopie Mössbauer.

Contacts

  • M. Pascal BOULET
    Responsable scientifique de plateforme
    Responsable technique de plateforme

Plan et accès

2 allée André Guinier
54000 NANCY

Autres villes d'implantation
METZ (57)

Technologies, services et plateformes

Offre de services

Caractérisation de tous types de matériaux (poudre,solide, monocristal, film mince, polymère, matériaux composite)
- Diffraction des rayons X en température
- Fluorescence X
- Tomographie RX

Offres de service et de formation

Prestations de services

Formation

Journée XGamma : mars 2021

Compétences (autres services)

- Des outils de caractérisation des matériaux par différentes techniques d'analyse de structure et/ou microstructure
- Mesures de contraintes résiduelles et de textures
- Mesures d'environnement chimique reconstruire le volume d'un objet
Une technique d'imagerie X non destructive en transmission

Thématiques stratégiques

  • Matériaux, chimie, procédés et produits

Réseaux de compétences

- RÉseau des Chercheurs et ITA PROfessionnels
de la Cristallographie Structurale RECIPROCS : http://www.cdifx.univ-rennes1.fr/RECIPROCS/RECIPROCS.htm
- GFAC :Groupement Français d'Analyses de Contraintes résiduelles
- GFSM :Groupement francais de spectroscopie Mossbauer

Équipements

Équipements

Nom Modèle Marque Objets d'études Mise à disposition
CHAMBRE DE LAUE
DIFFRACTOMETRE - D8 Advance D8 Advance/ Bruker Appareil de configuration theta/2theta avec le rayonnement monochromatique CuKalpha1. Cet appareil fonctionne en libre service avec un passeur d'échantillons de 90 positions Oui
DIFFRACTOMETRE - Discover Discover/ Bruker Appareil de géométrie 4 Cercle d'Euler, avec la rayonnement du Cobalt. Cet appareil est configuré pour faire des mesures de contraintes résiduelles et des mesures de textures. Il est également équipé d'un four DHS1100 permettant de caractériser les variations de contraintes ou de texture en fonction de la température jusqu'à 1100°C. Oui
DIFFRACTOMETRE - Kappa APEX II Kappa APEX II/ Bruker Oui
DIFFRACTOMETRE - X'Pert Pro MPD X'Pert Pro MPD/ PANalytical Oui
DIFFRACTOMETRE - X'Pert Pro MRD X'Pert Pro MRD/ PANalytical Oui
DIFFRACTOMETRE A25 MOLYBDENE Oui
SAXS/WAXS Oui
SPECTROMETRE DE FLUORESCENCE X Oui
SPECTROMETRE MÖSSBAUER Oui
SPECTROMETRE MÖSSBAUER 119SN Oui
SPECTROMETRE MÖSSBAUER 57CO Oui
TOMOGRAPHE RXSolution Oui

Environnement institutionnel

Établissements de rattachement

  • Etablissement universitaire - Université de Lorraine
  • Autre rattachement - CNRS

Unité(s) de recherche associée(s)

Pôle scientifique

  • Pôle scientifique Matière, Matériaux, Métallurgie, Mécanique

Labellisations et certifications

  • Institut Carnot ICEEL
  • Labellisation INFRA+ (Infrastructure d'appui à la recherche)
  • Materalia