• Matériaux, chimie, procédés et produits

Centre de compétences Diffusion, Diffraction, Tomographie et Fluorescence X et Spectroscopie Mossbauer (IJL - CC Xgamma)

Plateforme

Présentation générale

Le Centre de Compétences X-Gamma regroupe l'ensemble des équipements scientifiques et informatiques liés à l'utilisation des rayons X et à la spectroscopie Mössbauer.

Contacts

  • M. Pascal BOULET
    Responsable scientifique de plateforme
    Directeur / Directrice d'unité de recherche
    Responsable technique de plateforme

Plan et accès

2 allée André Guinier
54000 NANCY

Autres villes d'implantation
METZ (57)

Offres de service et de formation

Offre de services

Caractérisation de tous types de matériaux (poudre,solide, monocristal, film mince, polymère, matériaux composite)
- Diffraction des rayons X en température
- Fluorescence X
- Tomographie RX

Prestations de services

Compétences (autres services)

- Des outils de caractérisation des matériaux par différentes techniques d'analyse de structure et/ou microstructure
- Mesures de contraintes résiduelles et de textures
- Mesures d'environnement chimique reconstruire le volume d'un objet
Une technique d'imagerie X non destructive en transmission

Labellisation / Certifications

Thématiques stratégiques

  • Matériaux, chimie, procédés et produits

Équipements

Nom Modèle Marque Objets d'études
SPECTROMETRE MÖSSBAUER 119SN
SAXS/WAXS
DIFFRACTOMETRE - D8 Advance D8 Advance Bruker Appareil de configuration theta/2theta avec le rayonnement monochromatique CuKalpha1. Cet appareil fonctionne en libre service avec un passeur d'échantillons de 90 positions
DIFFRACTOMETRE - Kappa APEX II Kappa APEX II Bruker
DIFFRACTOMETRE - X'Pert Pro MPD X'Pert Pro MPD PANalytical
SPECTROMETRE DE FLUORESCENCE X
DIFFRACTOMETRE - Discover Discover Bruker Appareil de géométrie 4 Cercle d'Euler, avec la rayonnement du Cobalt. Cet appareil est configuré pour faire des mesures de contraintes résiduelles et des mesures de textures. Il est également équipé d'un four DHS1100 permettant de caractériser les variations de contraintes ou de texture en fonction de la température jusqu'à 1100°C.
DIFFRACTOMETRE A25 MOLYBDENE
CHAMBRE DE LAUE
DIFFRACTOMETRE - X'Pert Pro MRD X'Pert Pro MRD PANalytical
SPECTROMETRE MÖSSBAUER
SPECTROMETRE MÖSSBAUER 57CO
TOMOGRAPHE RXSolution

Environnement institutionnel

Établissements de rattachement

  • Autre rattachement - CNRS
  • Etablissement universitaire - Université de Lorraine

Unité(s) de recherche associée(s)

Pôle scientifique

  • Pôle scientifique Matière, Matériaux, Métallurgie, Mécanique

Réseaux de compétences

- RÉseau des Chercheurs et ITA PROfessionnels
de la Cristallographie Structurale RECIPROCS : http://www.cdifx.univ-rennes1.fr/RECIPROCS/RECIPROCS.htm
- GFAC :Groupement Français d'Analyses de Contraintes résiduelles
- GFSM :Groupement francais de spectroscopie Mossbauer