• Matériaux, chimie, procédés et produits

Plateforme de caractérisation électrique (CAREL)

Plateforme

Présentation générale

Le Laboratoire de Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes (LMOPS) est spécialisé dans le domaine des matériaux pour l’optique allant de la synthèse de matériau jusqu’au système (notamment pour le photovoltaïque). Dans ce sens, il est important de pouvoir contrôler les paramètres liés à la fabrication des matériaux, pour analyser les propriétés et phénomènes de transport, essentiels dans l’optimisation d’un système complet.

Afin de pouvoir étudier ces propriétés, le LMOPS a développé des bancs de mesure destinés à la caractérisation électrique des matériaux (principalement semi-conducteurs) regroupés au sein d’une plateforme technologique : la plateforme CAREL. Cette plateforme de caractérisation électrique (CAREL) a été conçue et mise en œuvre pour permettre l’étude et l’optimisation de matériaux et dispositifs à semi-conducteurs notamment, grâce à des techniques fiables et précises suivants une méthodologie cohérente. Les caractérisations sont effectuées sur une couche ou un composant, c’est-à-dire après une étape de traitement et de dépôt des contacts métalliques.

La plateforme intègre les équipements et logiciels pour effectuer les caractérisations suivantes : VAN DER PAUW / EFFET HALL (paramètres de transport), I-V (mécanismes de conduction), C-V (profils de dopants, pièges), PHOTOCOURANT (réponse spectrale), SPECTROSCOPIE D’ADMITTANCE (pièges dans les hétérostructures), TLM (résistance des contacts). Elle offre également la possibilité d’observer l’état de surface des échantillons grâce à deux profilomètres, mécanique et optique .

Contacts

Plan et accès

2 rue Edouard Belin
57070 METZ

Autres villes d'implantation
METZ (57)

Offres de service et de formation

Compétences (autres services)

- Caractérisation Électrique :
• VAN DER PAUW / EFFET HALL (paramètres de transport)
• I(V) (mécanismes de conduction)
• C(V) (profils de dopants, pièges)
• PHOTOCOURANT (réponse spectrale)
• SPECTROSCOPIE D’ADMITTANCE (pièges dans les hétérostructures)
• TLM (résistance des contacts)

- Analyse de surfaces :
• Profilométrie mécanique
• Profilomètrie optique

- Instrumentation scientifique :
• Développement de programmes d’acquisition
• Conception de bancs et dispositifs de mesures

Thématiques stratégiques

  • Matériaux, chimie, procédés et produits

Équipements

Équipements

Nom Modèle Marque Objets d'études Mise à disposition
BANC DE CARACTÉRISATION ÉLECTRIQUE van der Pauw/Effet HALL / CAREL (LMOPS) Mesures sur matériaux ( I(V), résistivité, mobilité et concentration des porteurs)
CRYOSTAT HE DE240-PF / ARSCryo Mesures électriques (I(V), résistivité) en température (plage 300K - 20K)
SPECTROSCOPIE D'ADMITTANCE 4284A / HP Mesures électriques en fréquence (capacitance)
BANC PHOTOCOURANT Photocourant / CAREL (LMOPS) Mesure électrique en réponse spectrale
PROFILOMETRE MÉCANIQUE Dektak XT / BRUKER Mesure d'épaisseur et de profil
PROFILOMETRE OPTIQUE ProFilm3D / Filmétrics Imagerie de surface et mesure d'épaisseur/profil/rugosité

Environnement institutionnel

Établissements de rattachement

  • Etablissement universitaire - Université de Lorraine
  • Autre rattachement - CentraleSupelec

Unité(s) de recherche associée(s)

Pôle scientifique

Labellisations et certifications

  • Labellisation INFRA+ (Infrastructure d'appui à la recherche)
  • Materalia