Plateforme Tomographie X (Plateforme Tomographie X)

Le principe consiste à illuminer l'échantillon avec un faisceau de rayons X et à enregistrer, à l'aide d'un détecteur de photons X, le faisceau absorbé ayant traversé le solide à analyser. On forme ensuite une image tridimensionnelle de l'échantillon.
Cette technique offre une étude non destructive qui révèle les caractéristiques de la structure interne de l'échantillon : dimensions, forme, répartition spatiale des éléments les uns par rapport aux autres, hétérogénéités et défauts (pores, inclusions, phases minérales...).
L'objet reconstruit peut ensuite être manipulé dans toutes les directions de l'espace et des coupes virtuelles peuvent être réalisées dans n'importe quelle partie de l'échantillon grâce à
une imagerie 3D de haute qualité.
La taille des objets tomographiés peut varier de moins de 1 mm à une dizaine de centimètres maximum. La résolution spatiale peut atteindre 0,5 m pour les plus petits échantillons.

• M. Jérôme STERPENICH
  Responsable scientifique de plateforme
• M. Christophe MORLOT
  Responsable technique de plateforme