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Matériaux, chimie, procédés et produits
Plateforme de caractérisation électrique (CAREL)
Plateforme
Le Laboratoire de Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes (LMOPS) est spécialisé dans le domaine des matériaux pour l’optique allant de la synthèse de matériau jusqu’au système (notamment pour le photovoltaïque). Dans ce sens, il est important de pouvoir contrôler les paramètres liés à la fabrication des matériaux, pour analyser les propriétés et phénomènes de transport, essentiels dans l’optimisation d’un système complet.
Afin de pouvoir étudier ces propriétés, le LMOPS a développé des bancs de mesure destinés à la caractérisation électrique des matériaux (principalement semi-conducteurs) regroupés au sein d’une plateforme technologique : la plateforme CAREL. Cette plateforme de caractérisation électrique (CAREL) a été conçue et mise en œuvre pour permettre l’étude et l’optimisation de matériaux et dispositifs à semi-conducteurs notamment, grâce à des techniques fiables et précises suivants une méthodologie cohérente. Les caractérisations sont effectuées sur une couche ou un composant, c’est-à-dire après une étape de traitement et de dépôt des contacts métalliques.
La plateforme intègre les équipements et logiciels pour effectuer les caractérisations suivantes : VAN DER PAUW / EFFET HALL (paramètres de transport), I-V (mécanismes de conduction), C-V (profils de dopants, pièges), PHOTOCOURANT (réponse spectrale), SPECTROSCOPIE D’ADMITTANCE (pièges dans les hétérostructures), TLM (résistance des contacts). Elle offre également la possibilité d’observer l’état de surface des échantillons grâce à deux profilomètres, mécanique et optique .
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M. Sidi HAMADY
Responsable scientifique de plateforme -
M. Queny KIEFFER
Responsable technique de plateforme
2 rue Edouard Belin
57070 METZ
Autres villes d'implantation
METZ (57)
Compétences (autres services)
• VAN DER PAUW / EFFET HALL (paramètres de transport)
• I(V) (mécanismes de conduction)
• C(V) (profils de dopants, pièges)
• PHOTOCOURANT (réponse spectrale)
• SPECTROSCOPIE D’ADMITTANCE (pièges dans les hétérostructures)
• TLM (résistance des contacts)
- Analyse de surfaces :
• Profilométrie mécanique
• Profilomètrie optique
- Instrumentation scientifique :
• Développement de programmes d’acquisition
• Conception de bancs et dispositifs de mesures
Thématiques stratégiques
- Matériaux, chimie, procédés et produits
Équipements
| Nom | Modèle | Marque | Objets d'études | Mise à disposition |
|---|---|---|---|---|
| BANC DE CARACTÉRISATION ÉLECTRIQUE | van der Pauw/Effet HALL / | CAREL (LMOPS) | Mesures sur matériaux ( I(V), résistivité, mobilité et concentration des porteurs) | |
| CRYOSTAT HE | DE240-PF / | ARSCryo | Mesures électriques (I(V), résistivité) en température (plage 300K - 20K) | |
| SPECTROSCOPIE D'ADMITTANCE | 4284A / | HP | Mesures électriques en fréquence (capacitance) | |
| BANC PHOTOCOURANT | Photocourant / | CAREL (LMOPS) | Mesure électrique en réponse spectrale | |
| PROFILOMETRE MÉCANIQUE | Dektak XT / | BRUKER | Mesure d'épaisseur et de profil | |
| PROFILOMETRE OPTIQUE | ProFilm3D / | Filmétrics | Imagerie de surface et mesure d'épaisseur/profil/rugosité |
Établissements de rattachement
Unité(s) de recherche associée(s)
Pôle scientifique
- Pôle scientifique Matière, Matériaux, Métallurgie, Mécanique
