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Matériaux, chimie, procédés et produits
Centre de compétences en Microscopies, Microsondes et Métallographie (IJL - CC 3M)
Plateforme
Le CC 3M met à la disposition de la communauté scientifique lorraine des outils de caractérisation des matériaux par différentes techniques de microscopies électroniques et de microanalyses (MET, MEB, microsonde et SIMS).
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Mme Stéphanie BRUYERE
Responsable scientifique de plateforme
2 allée André Guinier
54011 NANCY
Prestations de services
Compétences (autres services)
- Préparation d'échantillons FIB : Focused Ion Beam - usinage de lames ultraminces (< 100 nm) pour observations MET
- Préparation d'échantillons Métallographie : découpe, enrobage, polissage, microscopie optique, mesures de dureté, répliques, amincissement électrolytique
- Caractérisation des matériaux à différentes échelles allant de quelques dixièmes de nanomètres à quelques centaines de micromètres, par différentes techniques de microscopies électroniques et de microanalyses (MET, MEB, microsonde et SIMS)
- Analyses qualitatives et quantitatives de la composition des matériaux par EDS, EELS
- Cartographies d'orientations et de phases par EBSD (MEB), ASTAR (MET)
- Préparation d'échantillons Métallographie : découpe, enrobage, polissage, microscopie optique, mesures de dureté, répliques, amincissement électrolytique
- Caractérisation des matériaux à différentes échelles allant de quelques dixièmes de nanomètres à quelques centaines de micromètres, par différentes techniques de microscopies électroniques et de microanalyses (MET, MEB, microsonde et SIMS)
- Analyses qualitatives et quantitatives de la composition des matériaux par EDS, EELS
- Cartographies d'orientations et de phases par EBSD (MEB), ASTAR (MET)
Thématiques stratégiques
- Matériaux, chimie, procédés et produits
Réseaux de compétences
- Club de Nanométrologie
- Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de microAnalyses (GN MEBA)
- Cercle des Microscopistes JEOL (CMJ)
- Journées Francophones des Utilisateurs de Sondes Ioniques (JFUSI)
- Scanning Electron Microscope Philips Association (SEMPA)
- Groupe des Utilisateurs des Microscopes Philips (GUMP)
- Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de microAnalyses (GN MEBA)
- Cercle des Microscopistes JEOL (CMJ)
- Journées Francophones des Utilisateurs de Sondes Ioniques (JFUSI)
- Scanning Electron Microscope Philips Association (SEMPA)
- Groupe des Utilisateurs des Microscopes Philips (GUMP)
Équipements
| Nom | Modèle | Marque | Objets d'études | Mise à disposition |
|---|---|---|---|---|
| MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE | Gemini 500/ | ZEISS | ||
| MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE - MEB-FIB | Helios Nanolab 600i/ | Thermo Fischer (ex FEI) | ||
| MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE - Quanta 650 feg | Quanta 650 FEG/ | Thermo Fischer (ex FEI) | ||
| MICROSCOPE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION - ACCEL ARM Cold FEG 200F | ACCEL ARM Cold FEG 200F - corrigé en sonde et en image/ | JEOL | ||
| MICROSCOPE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION - ARM 200F FEG | ARM 200F corrigé en sonde/ | JEOL | ||
| MICROSCOPE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION - CM 200 | CM 200/ | FEI | ||
| MICROSONDE ELECTRONIQUE DE CASTAING | JXA 8530-F/ | JEOL | ||
| SPECTROMETRE DE MASSE D'IONS SECONDAIRES | IMS-7F/ | Cameca |
Établissements de rattachement
Unité(s) de recherche associée(s)
Pôle scientifique
- Pôle scientifique Matière, Matériaux, Métallurgie, Mécanique
